激光干涉仪利用光学干涉原理对光学元件的表面面形进行非接触测量,通过不同的检测光路可以实现对球面，平面、非球面等表面面形进行测量，主要用在抛光和成品阶段指导光学加工，产品的技术成熟，性能可靠，服务完善。

公司引进了美国ZYGO公司的GPI-QPZ干涉仪。该菲索型激光干涉仪相位检测系统具有高分辨率、高精度的特点，可以同时测量波前的位相和强度，测量结果不会受到波前光强调制的影响，十分适合于进行高精度波前相位测量，能精密测量各种反射面和光学系统的表面面形。